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400nm - 1100nm波長レーザー装置M2メーター/M2ファクター測定システム

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400nm - 1100nm波長レーザー装置M2メーター/M2ファクター測定システム

400nm - 1100nm波長レーザー装置M2メーター/M2ファクター測定システム
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商品の詳細:
ブランド名: Sintec Optronics
モデル番号: STCシリーズ
お支払配送条件:
受渡し時間: ストック
支払条件: 銀行経由のT/T

400nm - 1100nm波長レーザー装置M2メーター/M2ファクター測定システム

説明
ハイライト:

レーザー機器 M2 メーター

,

M2因子測定システム

,

M2因子測定

波長 400-1100nm M2 メーター/M2 ファクター測定システム

 

レーザービームの質と焦点付け能力はレーザーの非常に重要なパラメータであり,通常M2因子で特徴付けられる.レーザーのM2因子を測定するには,梁直径と離散の積の違いに基づいて計算される.レーザービームの質 M2 は以下の通りである.

M2= ((PI/4*LAMDA) *d0*THETA)

M2 はレーザービームの質 M2 で,PI は 3 です.1415927,LAMDAはレーザー波長,d0はビーム直径,そしてTHETAは偏差角.

部品番号 STC-M2
検出器材料 そうだ
波長範囲 400~1100nm
受信線直径 20um-9mm
試験出力範囲 10nW-10W ((光線直径によって異なります)

システムにはソフトウェアが付属しています. 位置がソフトウェアに入力された後,ビーム直径,ビーム偏差角,およびM2は,次のように計算され,表示されます.

m2 factor

連絡先の詳細
Wuhan Sintec Optronics Co., Ltd,

コンタクトパーソン: Steven

電話番号: +86 15671598018

ファックス: 86-027-51858989

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